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タッキング試験機

プローブタック法を採用し、温度による影響を強く受ける粘着力の測定にダブル温調(特許)を用いて-20度から+230度の環境下で測定を行うことが可能なタッキング試験機を紹介いたします。

タッキング試験機の概要と特徴

タッキング試験機の概要

各種ペ－スト、粘着テ－プ等のタッキネス(瞬間的な粘着力)の測定に対し、今まで個人差による誤差が大きかったデ－タを定量的に評価する事が可能になります。まずコントロール(進入速度・加圧力・加圧時間・引き離し速度)された測定プローブを、サンプルに押しつけ、引き離す過程での粘着力を測定します。測定データはパソコン処理が可能です。

ダブル温調(特許)により試料片をホットプレートで裏面より予備加熱を行った状態で測定面に加熱されたプローブを侵入させることで、設定温度と実際に評価される試験面の温度を一定化させる事ができると同時に、ホットプレート加熱を停止させることで、常温状態の試験片に対し加圧と同じ時間のみ加熱を行い粘着力計測を行う事ができる為、加熱加圧成型における金型との離形成計測や、複写機におけるトナーの定着ベルトに対する離形成を計測する事が可能です。

加圧時間が最短10msecが可能な為、瞬間的な接触により生じるタッキネスの計測も可能です。

タッキング試験機の特徴

加圧過程の制御方式を3種類の中から選択できます
最短加圧時間10msec
加圧プロファイルの作成が可能
ホットプレートにより、粘着力の温度依存性が評価できます
プローブを温めて測定することが出来ます
プローブの素材、形状を御希望に合わせ製作することも可能です
JIS Z3284・IIW・SC/IA-SP058、IPC・SP-819に準拠しています

※本機は、これまでご愛顧頂きました『タッキング試験機(TAC-Ⅱ)』及び『定着性シミュレータ(FSR-1000)』両機種の機能を網羅した試験機となります。この為、本機製造に伴い両機種は製造中止とさせていただきます。

長年のご愛顧を賜りありがとうございました。